你知道嗎，使用不對(duì)也會(huì)導(dǎo)致進(jìn)口天平不準(zhǔn)；那有是哪些因素造成進(jìn)口天平不準(zhǔn)呢？我們來看看吧！
 

　　使用不對(duì)也會(huì)導(dǎo)致進(jìn)口天平不準(zhǔn)：
 

　　a.稱量前應(yīng)檢查天平是否正常，是否處于水平位置，玻璃框內(nèi)外是否清潔。
 

　　b.稱量物不能超過天平負(fù)載，不能稱量熱的物體。
 

　　有腐蝕性或吸濕性物體必須放在密閉容器中稱量。
 

　　c.同一化學(xué)試驗(yàn)中的所有稱量，應(yīng)自始至終使用同一架天平，使用不同天平會(huì)造成誤差。
 

　　d.每架天平都配有固定的砝碼，不能錯(cuò)用其他天平的砝碼。
 

　　保持砝碼清潔干燥，砝碼用鑷子夾取，不能用手拿，用完放回砝碼盒內(nèi)。
 

　　e.稱量完畢，應(yīng)檢查天平梁是否托起，砝碼是否已歸位，指數(shù)盤是否轉(zhuǎn)到"0"，電源是否切斷，邊門是否關(guān)好。后罩好 天平，填寫使用記錄。
 

　　f.經(jīng)常保持天平內(nèi)部清潔，必要時(shí)用軟毛刷或綢布抹凈或用無水乙醇擦凈。
 

　　g.天平內(nèi)應(yīng)放置干燥劑。稱量不得超過天平的大載荷量。
 

　　電子天平必須根據(jù)天平的使用地點(diǎn)實(shí)施重力加速度補(bǔ)償：
 

　　電子天平必須根據(jù)天平的使用地點(diǎn)實(shí)施重力加速度補(bǔ)償。內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼補(bǔ)償方法及其不足。目前的電子天平普遍采用內(nèi)置校準(zhǔn)砝碼的補(bǔ)償方法，即在電子天平內(nèi)部設(shè)置一個(gè)校準(zhǔn)砝碼，通過對(duì)校準(zhǔn)砝碼的稱量得出當(dāng)?shù)氐膅值。這種補(bǔ)償方法需要增加電子分析天平的機(jī)械加載機(jī)構(gòu)和自校砝碼，因此提高了產(chǎn)品成本和工藝復(fù)雜性。而且，內(nèi)置砝碼在長(zhǎng)期使用后，難以進(jìn)行砝碼檢定和表面清潔處理，易于造成電子分析天平的時(shí)漂誤差。外附校準(zhǔn)砝碼補(bǔ)償方法。將校準(zhǔn)砝碼改為通用標(biāo)準(zhǔn)砝碼，作為電子分析天平的附件，直接通過稱盤加載稱量，可進(jìn)行重力加速度的自動(dòng)校準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)重力加速度對(duì)天平稱量影響的自動(dòng)補(bǔ)償。由于外附校準(zhǔn)砝碼的準(zhǔn)確度能夠得到保證，重力加速度的補(bǔ)償精度高，已獲得廣泛應(yīng)用。